有許多因素會(huì)影響老化測(cè)試系統(tǒng)的整體性能，下面是一些主要方面：
1 ．首先是測(cè)試方法的選擇。理想的情況是器件在老化制程上花費(fèi)的時(shí)間最少，這樣可以提高總體產(chǎn)量。惡劣的電性能條件有助于故障加速出現(xiàn)，因此能快速進(jìn)行反復(fù)測(cè)試的系統(tǒng)可減少總體老化時(shí)間。每單位時(shí)間里內(nèi)部節(jié)點(diǎn)切換次數(shù)越多，器件受到的考驗(yàn)就越大，故障也就出現(xiàn)得更快。
2 ．老化板互連性、PCB 設(shè)計(jì)以及偏置電路的復(fù)雜性。老化測(cè)試系統(tǒng)可能被有些人稱為高速測(cè)試，但是，如果機(jī)械連接或老化板本身特性會(huì)削弱信號(hào)質(zhì)量，那么測(cè)試速度將會(huì)是一個(gè)問(wèn)題。如像過(guò)多機(jī)電性連接會(huì)增大整個(gè)系統(tǒng)的總電容和電感、老化板設(shè)計(jì)不良會(huì)產(chǎn)生噪聲和串?dāng)_、而很差的引腳驅(qū)動(dòng)器設(shè)計(jì)則會(huì)使快速信號(hào)沿所需的驅(qū)動(dòng)電流大小受到限制等等，這些都僅是一部份影響速度的瓶頸，另外由于負(fù)載過(guò)大并存在阻抗、電路偏置以及保護(hù)組件值的選擇等也會(huì)使老化的性
能受到影響。
3 ．計(jì)算機(jī)接口與數(shù)據(jù)采集方式。有些老化測(cè)試系統(tǒng)采用分區(qū)方法，一個(gè)數(shù)據(jù)采集主機(jī)控制多個(gè)老化板，另外有些系統(tǒng)則是單板式采集。從實(shí)際情況來(lái)看，單板式方法可以采集到更多數(shù)據(jù)，而且可能還具有更大的測(cè)試產(chǎn)量。
4 ．對(duì)高速測(cè)試儀程序的下載及轉(zhuǎn)換能力。有些老化測(cè)試系統(tǒng)有自己的測(cè)試語(yǔ)言，對(duì)需要做100% 節(jié)點(diǎn)切換的被測(cè)器件不用再開發(fā)程序；而有些系統(tǒng)能夠把高速測(cè)試儀程序直接轉(zhuǎn)換到老化應(yīng)用上，可以在老化過(guò)程中進(jìn)行更準(zhǔn)確的測(cè)試。
5 ．系統(tǒng)提供參數(shù)測(cè)試的能力。如果老化測(cè)試系統(tǒng)能進(jìn)行一些速度測(cè)試，那么還可得到其它一些相關(guān)失效數(shù)據(jù)以進(jìn)行可靠性研究，這也有助于精簡(jiǎn)老化后測(cè)試制程。
6 ．根據(jù)時(shí)間動(dòng)態(tài)改變測(cè)試參數(shù)的能力，如電壓與頻率。如果老化測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)崟r(shí)改變參數(shù)，則可以加快通常屬于產(chǎn)品壽命后期階段故障的出現(xiàn)。對(duì)于某些器件結(jié)構(gòu)，直流電壓偏置及動(dòng)態(tài)信號(hào)的功率變動(dòng)都可加速出現(xiàn)晚期壽命故障。
7 ．計(jì)算機(jī)主機(jī)與測(cè)試系統(tǒng)之間的通訊。由于功能測(cè)試程序非常長(zhǎng)，因此測(cè)試硬件的設(shè)計(jì)應(yīng)盡可能提高速度。一些系統(tǒng)使用較慢的串行通訊，如RS -232C 或者類似協(xié)議，而另一些系統(tǒng)則使用雙向并行總線系統(tǒng)，大大提高了數(shù)據(jù)流通率。
推薦產(chǎn)品：鹽霧試驗(yàn)箱